廣州深華公司提供的梅特勒電子天平XSE105DU質(zhì)量過(guò)硬，物美價(jià)廉。

技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)： XSE105DU

量程： 41.0 g; 120.0 g

可讀性 ：0.01 mg; 0.1 mg

最小稱量值 ：(USP)，典型值 20.0 mg

穩(wěn)定時(shí)間： 1.5 sec

線性誤差：（典型值）± 0.2 mg

重復(fù)性： 0.01 mg

重復(fù)性：（校驗(yàn)砝碼） 5.0 g

尺寸 高度 ：322.0 mm

尺寸 寬度 ：263.0 mm

尺寸 深： 482.0 mm

外殼； 壓鑄鋁合金

秤盤外形尺寸 ：寬度 73.0 mm

秤盤外形尺寸： 深 78.0 mm

合法交易： No

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

XSE205DU梅特勒電子分析天平特點(diǎn)：

StatusLight™ – 天平就緒

StatusLight 通過(guò)顏色直觀地指明天平的狀態(tài)。綠色表示就緒，黃色表示警告，紅色表示錯(cuò)誤。清晰顯示的燈光表明天平是否已準(zhǔn)備好開(kāi)始執(zhí)行稱量任務(wù)。

消除電荷—樣品無(wú)憂

一體化去靜電裝置固定到天平側(cè)面，緩慢高效地去除靜電荷，而不會(huì)導(dǎo)致稱量室內(nèi)干擾。結(jié)果更加準(zhǔn)確，并可避免交叉污染。

RFID 解決方案

Smart Tag RFID 標(biāo)簽可實(shí)現(xiàn)滴定樣品信息安全地從天平傳輸至滴定儀。SmartScan™在帶有標(biāo)記的移液器上檢查測(cè)試和校準(zhǔn)日期。內(nèi)置的應(yīng)用程序向?qū)�將指�?dǎo)您完成移液器檢查過(guò)程。

XSE 分析天平非常努力工作

XSE 分析天平提供卓越的稱量性能和品質(zhì)保證以及符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，是各種工作場(chǎng)所完美可靠的解決方案。

創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈 (StatusLight) 可免除您在稱量方面的擔(dān)憂。清晰可見(jiàn)的綠色指示燈讓您知道何時(shí)開(kāi)啟安全，所有的測(cè)試都始終保持最新，天平水平且功能正常。

XSE 天平配備各種選件和多個(gè)連接選項(xiàng)，適用于不同的稱量應(yīng)用。

瑞士設(shè)計(jì)與制造，卓越的品質(zhì)值得您信賴。

LabX – 稱量過(guò)程盡在掌握

LabX 實(shí)驗(yàn)室軟件提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的SOP 用戶向?qū)АＷ詣?dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和生成報(bào)告，避免抄寫(xiě)誤差并確保完全可追溯性。

XSE205DU梅特勒電子分析天平產(chǎn)品特性

精確的結(jié)果

高分辨率技術(shù)

內(nèi)部校正和靈敏度測(cè)試

加載 5% 時(shí)的重復(fù)性，10 µg

高效的操作

彩色觸摸屏

采用 11 種語(yǔ)言的用戶界面

易巧稱量件 (ErgoClip) 用于直接加樣

易于清潔

懸掛式網(wǎng)格秤盤 (SmartGrid)

動(dòng)態(tài)圖形顯示 (SmartTrac) 指導(dǎo)的加樣至目標(biāo)

稱量保證

圖形化水平控制系統(tǒng)和分級(jí)別警告最小稱量值 (MinWeigh) 保護(hù)測(cè)試管理器FACT 和 GWP 歷史與用戶及密碼保護(hù)

狀態(tài)指示燈 (StatusLight)

無(wú)縫過(guò)程

LabX 就緒

RFID 通信就緒

一體化去靜電裝置就緒

內(nèi)置 RS232 接口

第 2 接口選件插槽

XSE205DU梅特勒電子分析天平選配件

去靜電裝置

一體化去靜電裝置可中和樣品和容器上的靜電荷，并且結(jié)構(gòu)緊湊（內(nèi)置在天平內(nèi)部）。

易巧稱量組件 (ErgoClips)直接加樣至您的容器中。ErgoClips 在您的天平上固定一系列不同外形的容器。

Smart Tag RFID 標(biāo)簽

從您的天平通過(guò)滴定杯安全地傳輸?shù)味�樣品信息�?/p>

打印機(jī)

堅(jiān)固耐用的 P-50 系列實(shí)驗(yàn)室打印機(jī)在紙上進(jìn)行具有存檔質(zhì)量的打印輸出和連續(xù)剝離標(biāo)簽。

EasyScan™

在帶有射頻識(shí)別 (RFID) 標(biāo)記的移液器上檢查測(cè)試和校準(zhǔn)日期。當(dāng)通過(guò)天平應(yīng)用進(jìn)行測(cè)試時(shí)，記錄新的測(cè)試日期。